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技術文章
  • 大豐半導體工廠氣體檢測儀 XD-303AH
  • 靜電放電干擾概述
  • 電位相對測量法對溶液pH值的測量
  • 關于鍛件超聲波探傷的標準及規(guī)程
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  • 當前位置:首頁 > 大豐儀器儀表 > 大豐氣體檢測儀 > 大豐半導體特氣
    半導體工廠氣體檢測儀
    型 號:XD-303AH
    品 牌:日本新宇宙
    技術指標:檢測對象氣體:胂 
    大豐半導體工廠氣體檢測儀-XD-303AH-日本新宇宙
    功能描述
    檢測對象氣體:
    檢測范圍: 0-1ppm;0-0.2ppm
    最小刻度: 0.1ppm;0.01ppm
    采樣方式: 自動吸引式
    應答速度: 60%應答40秒
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    www.stockella.com 大豐半導體工廠氣體檢測儀 版權所有 備案號: 魯ICP備08106748號